便攜式超聲波探傷儀斜探頭DAC曲線制作方法

隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展，便攜式式超聲波探傷儀已迅速普及于探傷檢測(cè)行業(yè)。便攜式超聲波探傷儀能夠更加快速便捷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷(裂紋、夾雜、氣孔等)的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。

DAC曲線是一種描述反射點(diǎn)至波源的距離、回波高度及當(dāng)量大小之間相互關(guān)系的曲線。在無損檢測(cè)超聲波探傷中，DAC曲線主要應(yīng)用于對(duì)工件焊縫缺陷的檢測(cè)和判定，它關(guān)系到缺陷定位、定量、定性的準(zhǔn)確性和檢測(cè)結(jié)果的可靠性。用超聲波探傷時(shí)，檢測(cè)人員通過DAC曲線能準(zhǔn)確判定出工件焊縫內(nèi)部缺陷的位置和大小，并做出正確的驗(yàn)收?qǐng)?bào)告，DAC曲線的制作也是超聲波探傷重要的操作之一。

在實(shí)際工作中，有些探傷人員對(duì)儀器操作不當(dāng)，參數(shù)設(shè)置不合理，導(dǎo)致DAC曲線的制作不準(zhǔn)確，嚴(yán)重影響缺陷判定，甚至?xí)斐慑e(cuò)判、漏判和誤判情況出現(xiàn)，直接影響檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。我們可以依照標(biāo)準(zhǔn)GB11345-89上的測(cè)量方法和要求，接合具體探傷工件，快速準(zhǔn)確制作DAC曲線，以滿足工件探傷檢測(cè)工作要求。

DAC曲線制作儀器、工具及材料

便攜式超聲波探傷儀；CSK—IA、CSK—IIIA型標(biāo)準(zhǔn)試塊、斜探頭一只；300mm鋼板尺一個(gè)、機(jī)油耦合劑等。

DAC曲線制作

斜探頭類型眾多，結(jié)構(gòu)尺寸各異。超聲波探傷檢測(cè)前，儀器探頭參數(shù)必須經(jīng)過校準(zhǔn)。斜探頭通常需要校準(zhǔn)以下參數(shù)：①校準(zhǔn)橫波入射零點(diǎn)及探頭前沿；②校準(zhǔn)材料聲速；③校準(zhǔn)探頭角度(K值)。

校準(zhǔn)零偏(橫波入射零點(diǎn))及材料聲速

在探傷檢測(cè)時(shí)，由于超聲波通過保護(hù)膜、耦合劑及有機(jī)玻璃楔塊(斜探頭)進(jìn)入待測(cè)工件，因此在缺陷定位時(shí)，需確定橫波入射零點(diǎn)，才能得到超聲波在工件中的實(shí)際聲程。對(duì)于橫波斜探頭接觸法探傷而言，在執(zhí)行任何探傷任務(wù)前做零偏校準(zhǔn)都是必不可少的程序一。

首先輸入鋼鐵材料橫波聲速3230m／s，將儀器探測(cè)范圍調(diào)節(jié)為150mm，選擇閘門方式為A、B雙閘門，然后用CSK—IA試塊開始測(cè)試斜探頭零點(diǎn)。

將斜探頭放在試塊上并前后水平移動(dòng)，調(diào)節(jié)增益值，使得試塊前沿反射回波同時(shí)出現(xiàn)在波形顯示區(qū)內(nèi)。用A閘門鎖定反射回波，前后水平移動(dòng)探頭，尋找最高反射回波，同時(shí)滿足反射回波在屏幕上高于10%。按住探頭不動(dòng)，進(jìn)入儀器探頭零偏校準(zhǔn)界而，選擇“零偏聲速”項(xiàng)目，單擊旋輪按鈕。儀器自動(dòng)校準(zhǔn)探零偏和聲速。并將系統(tǒng)當(dāng)前的數(shù)值自動(dòng)更改為校準(zhǔn)的零偏和速。此時(shí)得到的聲速即為該材料的實(shí)際聲速值。

仍保持探頭小動(dòng)。用鋼尺量出探頭前端到試塊端邊的距離。然后用100減去這個(gè)距離，這個(gè)數(shù)值就是探頭的前沿值，在探傷儀上輸入探頭前沿就完成了。

校準(zhǔn)折射角(K值)

斜探探探傷時(shí)不僅要知道缺陷的聲程，更需要得到缺陷的垂直和水平位置，因此斜探頭還要精確測(cè)定K(折射角)才能正確地對(duì)缺陷進(jìn)行定位。

我們將斜探調(diào)轉(zhuǎn)方向放在CSK—IA標(biāo)準(zhǔn)試塊另一端。前后水平移動(dòng)探頭。找到試塊左端Φ50mm大圓孔的回波，使得此回波達(dá)到最大波幅，保持探頭不動(dòng)。選擇“角度測(cè)量”按鈕。儀器自動(dòng)測(cè)量并計(jì)算出斜探頭的實(shí)際K值，一般在K2左右。

制作DAC曲線

DAC曲線是距離一波幅曲線的簡(jiǎn)稱，是根據(jù)同一缺陷以不同聲程反映波波幅大小的曲線。正常情況下，工件內(nèi)大小相同而距離不同的反射體。由于材料的衰減、波束的擴(kuò)散而造成波幅的變化。在繪制好DAC曲線后。不管工件中反射體的位置如何。同樣大小的反射體產(chǎn)生的回波峰值均在同一曲線上。較小的反射體產(chǎn)生的同波會(huì)落在曲線下面。而較大一些的會(huì)落在該曲線上面。

用CSK-ⅢA試塊制作DAC曲線：移動(dòng)斜探頭分別找到位置佗①(孔深為10mm)、位置②(孔深為20mm)、位③(孔深為30mm)的最高回波。并將A閘¨套住此波。分別選擇“記錄測(cè)點(diǎn)”項(xiàng)日。單擊旋輪，儀器自動(dòng)記錄陔波峰的高度和位置。完成該點(diǎn)的記錄。儀器依據(jù)記錄完成的測(cè)點(diǎn)會(huì)自動(dòng)生成一條DAC基準(zhǔn)母線。根據(jù)探傷需要，可以為這條曲線設(shè)置探傷標(biāo)準(zhǔn)。

我們做的這三條曲線分別為評(píng)定線、定量線、判廢線，曲線制作完畢，要對(duì)曲線進(jìn)行保存。